Mikro- und nanometrische Untersuchungen zur Minimierung von optischen Verlusten in dielektrischen Dünnschichtsystemen

Darmstadt, Techn. Hochsch., Diss., 1993

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Staub, Josef (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1993
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Beschreibung
Zusammenfassung:Darmstadt, Techn. Hochsch., Diss., 1993
Beschreibung:IV, 143 S.
Ill., graph. Darst.