Mehrebenen-Testgenerierung für synchrone Schaltwerke

Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1994

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Gläser, Uwe (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	München u.a. Oldenbourg 1994
Schriftenreihe:	Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung <Sankt Augustin>: Berichte der Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung 235
Schlagworte:	Integrated circuits > Testing > Metal oxide semiconductors, Complementary > Testmustergenerierung > Mehrebenensimulation > Testmustergenerator > Fehlersimulation > Synchrones Schaltwerk > Test > Kontextanalyse > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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