Charakterisierung dünner Edelmetallfilme auf Ruthenium-Oberflächen mittels Xenon-Adsorption und Photoelektronenspektroskopie

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Schick, Matthias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1993
Schlagworte:	Adsorption > Kristallfläche > Dünne Schicht > Edelmetall > Xenon > Ruthenium > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	Bonn, Univ., Diss., 1993
Beschreibung:	194 S. Ill., graph. Darst.