Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie : mit 20 Tabellen

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie, AES, Auger-Elektronen-Spektrometrie, XPS, Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie mit 20 Tabellen

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Grasserbauer, Manfred (BerichterstatterIn), Dudek, Hans J. (BerichterstatterIn), Ebel, Maria F. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 1986
Schlagworte:
Sekundärionen-Massenspektrometrie > Auger-Spektroskopie > Röntgen-Photoelektronenspektroskopie > Oberflächenanalyse
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Beschreibung
Beschreibung:VIII, 300 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:3540150501
3-540-15050-1
0387150501
0-387-15050-1