Ein elektrisches Meßverfahren zur direkten Ortsfrequenzanalyse des im Elektronenmikroskop entstehenden Bildes
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1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | und |
Veröffentlicht: |
1973
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Beschreibung: | München, Diss., 1973, Ausz.. - Aus: Proc. Fith European Congress on Electron Microscopy (1972) u.d.T.: V. Witt u.a.: Fourier-analysis of image in the electron microscope |
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Beschreibung: | S. 632 - 633 graph. Darst. |