Materialcharakterisierung durch Untersuchung der Rekombinationsprozesse und Störstellenparameter in Silizium

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Schmid, Wolfgang (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Pilkuhn, Manfred H. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Eggenstein-Leopoldshafen Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik 1981
Schriftenreihe:	Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht T / 81,1 - 81,114
Schlagworte:	Rekombination > Photolumineszenz > Silicium > Störstelle > Photolumineszenzspektroskopie > Werkstoffprüfung > Störstellenparameter
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	80 S. graph. Darst.