Untersuchungen über die Strahlenschädigung von Halbleiterbauelementen sowie über die Verbesserung der Strahlenresistenz von Planartransistoren durch Bestrahlungs-Ausheil-Zyklen

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Bäuerlein, Rudolf (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	München ZLDI 1970
Schriftenreihe:	Deutschland, Bundesminister für Bildung und Wissenschaft, Bundesrepublik: Forschungsbericht / Weltraumforschung 1970,26
Schlagworte:	Halbleiterbauelement > Planartransistor > Strahlenresistenz > Strahlenschaden > Ausheilung
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Beschreibung
Beschreibung:	180 S. graph. Darst.