Local circuit transformations preserving robust path delay fault testability

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Becker, Bernd (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Drechsler, Rolf (VerfasserIn), Hengster, Harry (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Frankfurt Main Fachbereich Informatik, Univ. 1993
Schriftenreihe:Interner Bericht / Fachbereich Informatik, Universität Frankfurt 1993,1
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Beschreibung
Beschreibung:8 S.
graph. Darst.