Scanning tunneling microscopy and related methods : [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy, Erice, Italy, April 17 - 29, 1989]

Scanning tunneling microscopy and related methods [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy, Erice, Italy, April 17 - 29, 1989]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Behm, Rolf Jürgen (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Dordrecht u.a. Kluwer 1990
Schriftenreihe:NATO ASI series / E 184
Schlagworte:
Mikroskopie > Tunneleffekt > Rastertunnelmikroskopie > Abtastsystem > Konferenzschrift
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