Scanning tunneling microscopy and related methods [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy, Erice, Italy, April 17 - 29, 1989]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Advanced Study Institute on Basic Concepts and Applications of Scanning Tunneling Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Behm, Rolf Jürgen (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht u.a. Kluwer 1990
Schriftenreihe:	NATO ASI series / E 184
Schlagworte:	Mikroskopie > Tunneleffekt > Rastertunnelmikroskopie > Abtastsystem > Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!