Defect recognition in semiconductors before and after processing proceedings of the fourth international conference, 18 - 22 March 1991, Wilmslow, UK

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Brozel, M. R. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bristol IOP Publ. Ltd. 1992
Schriftenreihe:	Seminconductor science and technology 7,1A
Schlagworte:	Fehlererkennung > Halbleiterbauelement > Gitterbaufehler > Halbleiter > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:	Stücktitelaufnahme zu e. Zeitschriftenh.
Beschreibung:	310 S. graph. Darst.