Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy [proceedings of a NATO Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy, held September 12 - 17, 1988, in Bristol, United Kingdom]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Advanced Research Workshop on the Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Cherns, David (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York u.a. Plenum Press 1989
Schriftenreihe:	NATO: [Nato ASI series / B] 203
Schlagworte:	Halbleiterwerkstoff > Elektronenmikroskopie > Halbleiter > Elektronenstreuung > Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!