Acceleration of RAM-tests with associative pattern recognition methods

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Tavangarian, Djamshid (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Elm, Christian (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Hagen Fernuniv. 1991
Schriftenreihe:	Informatik-Berichte 112
Schlagworte:
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