Vergleich der Rückstreuung von Helium- und Lithiumionen niedriger Energie von reinen und sauerstoffbedeckten Nickel(110)-Oberflächen

München, Techn. Univ., Diss., 1983

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Englert, Wolfgang (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1983
Schlagworte:
Ionenstreuspektroskopie > Rückstreuung > Nickel > Metalloberfläche > Oberfläche > Heliumion > Lithiumion > Hochschulschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:München, Techn. Univ., Diss., 1983
Beschreibung:Mikrofiche-Ausg.: 2 Mikrofiches : 24x
Beschreibung:151 S.
Ill., graph. Darst.