Point defects in semiconductors 2 Experimental aspects

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Lannoo, Michel (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Bourgoin, Jacques (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 1983
Schriftenreihe:	Springer series in solid-state sciences 35
Schlagworte:	Point defects > Semiconductors > Defects
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Beschreibung
Beschreibung:	XVI, 295 S.
ISBN:	3540115153 3-540-11515-3 0387115153 0-387-11515-3