VLSI: testing and validation techniques ˜VLSI, testing & validation techniquesœ

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Reghbati, Hassan K. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Washington, DC IEEE Computer Soc. Press 1985
Schlagworte:
VLSI > autotest > conception VLSI > test VLSI > test circuit > Integrated circuits > Very large scale integration > Prüftechnik > CAD > Test
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