VLSI: testing and validation techniques VLSI, testing & validation techniques

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Reghbati, Hassan K. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC IEEE Computer Soc. Press 1985
Schlagworte:	VLSI > autotest > conception VLSI > test VLSI > test circuit > Integrated circuits > Very large scale integration > Prüftechnik > CAD > Test
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

VLSI: testing and validation techniques VLSI, testing & validation techniques