VLSI testing

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Williams, T. W. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. North-Holland 1986
Schriftenreihe:	Advances in CAD for VLSI. 5.
Schlagworte:	Circuits intégrés à très grande échelle - Essais > Integrated circuits > Very large scale integration > Test > CAD > Prüftechnik > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:	IX, 275 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	0444878955 0-444-87895-5 0444878904 0-444-87890-4