Untersuchungen zur Verbesserung des Auflösungsvermögens von Elektronenmikroskopen und der Interpretierbarkeit elektronenoptischer Aufnahmen

Dissertation, Technische Universität Berlin, 1978

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Sieber, Peter (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin 1978
Schlagworte:
Beeldkwaliteit > Elektronenmicroscopie > Scheidend vermogen > Interpretation > Elektronenmikroskop > Aufzeichnung > Elektronenmikroskopie > Auflösungsvermögen > Hochschulschrift > Proefschriften (vorm)
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Beschreibung
Zusammenfassung:Dissertation, Technische Universität Berlin, 1978
Beschreibung:200 S.