Untersuchungen zur Schichtdickenabhängigkeit von Beweglichkeit und Dotierung in epitaxialen Siliziumschichten auf Spinell und Saphir
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | ger |
| Veröffentlicht: |
Zürich
1977
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| Schlagworte: |
COUCHES ÉPITAXIALES (PHYSIQUE DES SYSTÈMES MOLÉCULAIRES)
> ELECTRONIC STRUCTURE OF THIN FILMS (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)
> ELEKTRONISCHE STRUKTUR DÜNNER SCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN)
> EPITAXIALSCHICHTEN (PHYSIK VON MOLEKULARSYSTEMEN)
> SAPHIR (MINERALOGIE)
> SAPPHIRE (MINERALOGY)
> SILICIUM (CHEMISCHE ELEMENTE)
> SILICIUM (ÉLÉMENTS CHIMIQUES)
> SILICON (CHEMICAL ELEMENTS)
> SPINEL (MINERALOGY)
> SPINELL (MINERALOGIE)
> SPINELLES (MINÉRALOGIE)
> STRUCTURE ÉLECTRONIQUE DES FILMS MINCES (PHYSIQUE DES SYSTÈMES MOLÉCULAIRES)
> THIN LAYER FORMATION BY VAPORIZATION AND CONDENSATION (PHYSICS OF MOLECULAR SYSTEMS)
> Hochschulschrift
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Zürich, Techn. Hochsch., Diss., 1977 |
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| Beschreibung: | 92 S. Ill., graph. Darst. |