Shallow impurity centers in semiconductors proceedings of the 2. International Conference on Shallow Impurity Centers, 4. Trieste IUPAP-ICTP Semiconductor Symposium, Internat. Centre for Theoret. Physics, Trieste, Italy 28 July - 1 Aug. 1986

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Conference on Shallow Impurity Centers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Baldereschi, Alfonso (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	Amsterdam North-Holland 1987
Schriftenreihe:	Physica / B + C 146,1/2
Schlagworte:	Störstelle > Halbleiter > Flache Störstelle > Konferenzschrift
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