Silizium-Epitaxieschichten mittels Lösungstransport durch Fliehkraft und deren strukturelle und elektronische Charakterisierung überwiegend mit elektronenmikroskopischen Methoden
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | und |
Veröffentlicht: |
Bonn
1986
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Schriftenreihe: | Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T
1986,142 |
Schlagworte: | |
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Beschreibung: | 103 S. Ill. |
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