Silizium-Epitaxieschichten mittels Lösungstransport durch Fliehkraft und deren strukturelle und elektronische Charakterisierung überwiegend mit elektronenmikroskopischen Methoden

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bauser, Elisabeth (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:und
Veröffentlicht: Bonn 1986
Schriftenreihe:Deutschland <Bundesrepublik> / Bundesminister für Forschung und Technologie: Forschungsbericht / T 1986,142
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Beschreibung
Beschreibung:103 S.
Ill.