MOS1 a program for two-dimensional analysis of Si MOSFETs

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Wilson, Charles L.
Weitere Verfasser:	Blue, James L.
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Washington U. S. Gov. Print. Off. 1985
Schriftenreihe:	Semiconductor measurement technology 77
Schlagworte:
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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