Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in Germanium and Silicon p-i-n diodes

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Sher, A. H.
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington U. S. Gov. Print. Off. 1975
Schriftenreihe:	Semiconductor measurement technology 13
Schlagworte:
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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