Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy proceedings of a workshop held at the National Bureau of Standards; Gaithersburg, Maryland, Ocotber 1 - 3, 1975

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	USA National Bureau of Standards
Weitere Verfasser:	Heinrich, Kurt F. J. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington, DC US Department of Commerce, National Bureau of Standards 1976
Schriftenreihe:	National Bureau of Standards special publication 460
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