Use of Monte Carlo calculations in electron probe microanalysis and scanning electron microscopy proceedings of a workshop held at the National Bureau of Standards; Gaithersburg, Maryland, Ocotber 1 - 3, 1975
Gespeichert in:
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Weitere Verfasser: | |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Washington, DC
US Department of Commerce, National Bureau of Standards
1976
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Schriftenreihe: | National Bureau of Standards special publication
460 |
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Beschreibung: | VII, 164 S. graph. Darst. |
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