Entwicklung eines Mess- und Auswerteverfahrens zur röntgenographischen Analyse des Eigenspannungszustandes im Oberflächenbereich vielkristalliner Werkstoffe

Zugl.:Berlin, Humboldt-Univ., Habil.-Schr., 1999

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Genzel, Christoph
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Berlin HMI 1999
Schriftenreihe:	Berichte aus dem Zentrum für Eigenspannungsanalyse
Schlagworte:	Spannungsanalyse > Eigenspannung > Röntgenographie
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