Untersuchung von Metallen auf Halbleiteroberflächen mit Oberflächenabbildungs- und Analysen-Methoden

Frankfurt (Main), Univ., Diss., 1999

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Luck, Katrin
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Schlagworte:	Adsorption > Halbleiteroberfläche > Oberflächenanalyse > Biometrie > Verunreinigung > Wässrige Lösung > Oberflächenreaktion > Silicium > Metallion
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Frankfurt (Main), Univ., Diss., 1999
Beschreibung:	II, 58 Bl. graph. Darst.