X-ray microscopy and spectromicroscopy status report from the fifth international conference, Würzburg, August 19 - 23, 1996

Bibliographische Detailangaben

Weitere Verfasser:	Thieme, Jürgen (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin ˜u.aœ Springer
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