Physical measurement and analysis of thin films

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Murt, Edward M. (HerausgeberIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY Plenum Press 1969
Schriftenreihe:Progress in analytical chemistry 2
Schlagworte:
Dünne Schicht > Oberflächenanalyse > Aufsatzsammlung
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Beschreibung
Beschreibung:XI, 194 S.
Ill., graph. Darst.
Bibliographie:Literaturangaben