Strukturelle und lokale elektronische Einflüsse ultradünner Eisenfilme auf W(110)

Hamburg, Univ., Diss., 1996

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bode, Matthias
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Schlagworte:	Wolfram > Kristallfläche > Eisen > Dünne Schicht > Rastertunnelmikroskopie
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Hamburg, Univ., Diss., 1996
Beschreibung:	IV, 84 S. Ill., graph. Darst.