Local circuit transformations preserving robust path-delay-fault testability

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Becker, Bernd
Weitere Verfasser: Drechsler, Rolf, Hengster, Harry
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Frankfurt/Main Fachbereich Informatik, Univ. Frankfurt 1993
Schriftenreihe:Interner Berich / Fachbereich Informatik, Universität Frankfurt 93,1
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Beschreibung
Beschreibung:8 S.
Ill.
Bibliographie:Literaturverz. S. 7 - 8