Ellipsometrische Untersuchungen an Halbleitern und Halbleiteroberflächen mit Folgerungen zum Mechanismus des elektronischen Transports heisser Ladungsträger

Stuttgart, Univ., Diss., 1991

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Zollner, Stefan
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Schlagworte:	Ellipsometrie > Halbleiter > Optische Eigenschaft > Halbleiteroberfläche > Elektronischer Transport
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Stuttgart, Univ., Diss., 1991
Beschreibung:	373 S. Ill., graph. Darst.