Special sections in this issue: special section on the 12th International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (ISMTII 2015), special section on Imaging Systems and Techniques 2016, the 14th International Conference on Optical and Electronic Sensors

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: International Symposium on Measurement Technology and Intelligent Instruments (VerfasserIn), IEEE International Conference on Imaging Systems and Techniques (VerfasserIn), International Conference on Optical and Electronic Sensors (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bristol, UK IOP Publishing 2017
Schriftenreihe:Measurement science and technology volume 28, number 4 (June 2017)
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:Datum und Ort von ISMTII 2015: 22.-25.09.2015, Taipei - Homepage des Symposiums
Datum und Ort von IST 2016: 04.-06.2016, Chania, Crete - Homepage der Konferenz
Datum und Ort von COE 2016: 19.-22.06.2016, Gdansk, Poland - Homepage der Konferenz
Laut Inhaltsverzeichnis: Special section papers 044001-044009
Literaturangaben
Beschreibung:circa 170 Seiten in verschiedenen Seitenzählungen
Diagramme, Illustrationen