Special sections in this issue: the 14th IMEKO TC10 Workshop on Technical Diagnostics, special section on the 8th World Congress on Industrial Process Tomography, the 14th International Conference on Optical and Electronic Sensors

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	IMEKO TC10 Workshop on Technical Diagnostics (VerfasserIn), World Congress on Industrial Process Tomography (VerfasserIn), International Conference on Optical and Electronic Sensors (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bristol, UK IOP Publishing 2017
Schriftenreihe:	Measurement science and technology volume 28, number 7 (July 2017)
Schlagworte:	Konferenzschrift
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