Epitaxial graphene on SiC for quantum resistance metrology

Dissertation, Technische Universität Carolo-Wilhelmina zu Braunschweig, 2017

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Kruskopf, Mattias (VerfasserIn)
Körperschaft:	Technische Universität Braunschweig (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser:	Waag, Andreas (AkademischeR BetreuerIn), Schumacher, Hans Werner (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bremen Fachverlag NW in der Carl Schünemann Verlag GmbH Mai 2017
Schriftenreihe:	PTB-Bericht E, Elektrizität 111
Schlagworte:	Hochschulschrift > Siliciumcarbid > Graphen > Epitaxieschicht > Widerstand > Normal > Quantenmetrologie
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Dissertation, Technische Universität Carolo-Wilhelmina zu Braunschweig, 2017
Beschreibung:	xix, 121 Seiten Illustrationen, Diagramme
ISBN:	9783956063251 978-3-95606-325-1