Advanced transmission electron microscopy : imaging and diffraction in nanoscience

Advanced transmission electron microscopy imaging and diffraction in nanoscience

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zuo, Jian Min (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Spence, John C. H. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York Springer 2017
Schlagworte:
Materials Science > Materials science > Nanochemistry > Nanoscale science > Nanoscience > Nanostructures > Nanotechnology > Solid state physics > Durchstrahlungselektronenmikroskopie > Elektronenmikroskopie > Hochauflösendes Verfahren > Lehrbuch
Online Zugang:Inhaltstext
Inhaltsverzeichnis
http://www.springer.com/
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:xxvi, 729 Seiten
Illustrationen, Diagramme (teilweise farbig)
24 cm
ISBN:1493966057
1-4939-6605-7
9781493966059
978-1-4939-6605-9
9781493982493
978-1-4939-8249-3