The ionization function and its application to the electron probe analysis of thin films
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Yorktown Heights, NY
IBM Thomas J. Watson Research Center
1971
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| Schriftenreihe: | IBM research [report] / IBM Thomas J. Watson Research Center RC
3590 = 16227 Physics (general) |
| Schlagworte: | |
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | 24 Bl. graph. Darst. |
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