Design und Modellierung von Höchstfrequenzschaltungen und -Bauelementen einschließlich Selbsttestschaltungen in 28 nm CMOS : Cool Silicon Verbundprojekt: Cool RF 28 ; Cool-Höchstfrequenz & Test-28 ; Schlussbericht

Design und Modellierung von Höchstfrequenzschaltungen und -Bauelementen einschließlich Selbsttestschaltungen in 28 nm CMOS Cool Silicon Verbundprojekt: Cool RF 28 ; Cool-Höchstfrequenz & Test-28 ; Schlussbericht

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Technische Universität Dresden (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Schüffny, Rene (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Dresden 2014
Schlagworte:
Forschungsbericht
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