2010 2nd International Conference on Reliability, Safety and Hazard - Risk-Based Technologies and Physics-of-Failure Methods (ICRESH 2010) : Mumbai, India, 14 - 16 December 2010

2010 2nd International Conference on Reliability, Safety and Hazard - Risk-Based Technologies and Physics-of-Failure Methods (ICRESH 2010) Mumbai, India, 14 - 16 December 2010

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Varde, P. V. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2010
Schlagworte:
Konferenzschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Kongr.-Thema: Risk-based technology and physics-of-failure methods
Beschreibung:651 S.
ISBN:9781424483440
978-1-4244-8344-0