Dimensional optical metrology and inspection for practical applications II : 25 - 26 August 2013, San Diego, California, United States ; [proceedings ... of the 2013 Conference on Dimensional Optical Metrology and Inspection for Practical Applications ; part of SPIE optics + photonics]

Dimensional optical metrology and inspection for practical applications II 25 - 26 August 2013, San Diego, California, United States ; [proceedings ... of the 2013 Conference on Dimensional Optical Metrology and Inspection for Practical Applications ; part of SPIE optics + photonics]

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Harding, Kevin G. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2013
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 8839
Schlagworte:
Konferenzschrift > Optische Messtechnik
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