Susceptibility weighted imaging and quantitative susceptibility mapping at 3 Tesla and beyond new approaches and applications

Ilmenau, Techn. Univ., Diss., 2013

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Deistung, Andreas (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Haueisen, Jens (BerichterstatterIn), Reichenbach, Jürgen R. (BerichterstatterIn), Barth, Markus (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Ilmenau 2013
Schlagworte:
Online Zugang:Kurzbeschreibung
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