Sensors, cameras, and systems for industrial and scientific applications XIV : 06 - 07 February 2013, Burlingame, California, United States ; proceedings ; [part of] IS&T/SPIE electronic imaging, science and technology

Sensors, cameras, and systems for industrial and scientific applications XIV 06 - 07 February 2013, Burlingame, California, United States ; proceedings ; [part of] IS&T/SPIE electronic imaging, science and technology

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Society for Imaging Science and Technology (BerichterstatterIn), QUALCOMM Incorporated (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Widenhorn, Ralf (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE u.a. 2013
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 8659
Schlagworte:
Charge coupled devices > Metal oxide semiconductors, Complementary > Detectors > Scientific applications > Industrial applications > Konferenzschrift > Optischer Sensor > CMOS > CCD-Sensor
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:Getr. Zählung, [ca. 290] S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780819494320
978-0-8194-9432-0