Testing of reversible circuits

Bremen, Univ., Diss., 2013

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zhang, Hongyan (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2013
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Beschreibung
Zusammenfassung:Bremen, Univ., Diss., 2013
Beschreibung:VI, 137 S
graph. Darst