Analyse und Optimierung der Entwicklung und Zuverlässigkeit räumlicher Schaltungsträger (3D-MID)

Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2012

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Goth, Christian (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Bamberg Meisenbach 2013
Schriftenreihe:	Fertigungstechnik - Erlangen 232
Schlagworte:	Hochschulschrift > Dreidimensionaler spritzgegossener Schaltungsträger > Zuverlässigkeit > Umweltbelastung > Schutz > Halbleitergehäuse > Schutzschicht > Spritzgießen > Verbindungstechnik > Rapid Prototyping > Technische Innovation
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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