Process monitoring oriented IC testing

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Maly, Wojciech (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Naik, Samir B. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. SRC-CMU Research Center for Computer-Aided Design 1989
Schriftenreihe:	Research report / Center for Computer-Aided Design, Carnegie-Mellon University 89,43
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