2009 Asian Test Symposium (ATS 2009) Taichung, Taiwan, 23 - 26 November 2009

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2009
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:	461 S.
ISBN:	9781424451296 978-1-4244-5129-6