An engineering approach for examining crack growth and stability in flawed structures

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Shih, C. F. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	German, M. D. (VerfasserIn), Kumar, V. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Schenectady, NY General Electric, Corporate Research and Development 1980
Schriftenreihe:	Report / General Electric Company, Corporate Research and Development Class 1 80,205
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