The effectiveness study of Double Sampling s charts application on destructive testing process

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of product development
Weitere Verfasser: Lee, Pei-hsi (BerichterstatterIn), Torng, Chau-chen (BerichterstatterIn), Wu, Jhih-cyuan (BerichterstatterIn), Tseng, Chun-chieh (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2010
Schlagworte:
Statistische Qualitätskontrolle > Stichprobenerhebung > Halbleiterindustrie > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:1477-9056