A critical review of methods for measuring adhesion of thin films

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Mittal, K. L. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Yorktown Heights, NY IBM Thomas J. Watson Research Center 1973
Schriftenreihe:	IBM technical report 62.004
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